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The scramble for art in Central Africa
The scramble for art in Central Africa
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

The scramble for art in Central Africa

Enid Schildkrout ed; Curtis A Keim ed

Cambridge, UK Cambridge University Press New York 1998

Localização: MAE - Museu Arqueologia e Etnologia    (N7380 S433 )(Acessar)

2
Botnets
Botnets
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Botnets

Craig Binkley, Jim Schiller James R Binkley; Jim Binkley; Craig A Schiller James R. Binkley; Anthony Bradley; Michael Cross; Gadi Evron; David Harley; Chris Ries; Carsten Willems

Rockland Syngress 2007

Acesso online

3
Tradeoffs and Optimization in Analog CMOS Design
Tradeoffs and Optimization in Analog CMOS Design
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Tradeoffs and Optimization in Analog CMOS Design

Binkley, David

Newark: Wiley-Interscience 2008

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Citações Citado por
4
Playful Performers: African Children's Masquerades
Playful Performers: African Children's Masquerades
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Playful Performers: African Children's Masquerades

Binkley, David

Taylor and Francis 2017

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Citações Citado por
5
Static Stack-Preserving Intra-Procedural Slicing of WebAssembly Binaries
Static Stack-Preserving Intra-Procedural Slicing of WebAssembly Binaries
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Static Stack-Preserving Intra-Procedural Slicing of WebAssembly Binaries

Stievenart, Quentin ; Binkley, David W. ; De Roover, Coen

2022 IEEE/ACM 44th International Conference on Software Engineering (ICSE), 2022, p.2031-2042

ACM

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6
An empirical study of identifier splitting techniques
An empirical study of identifier splitting techniques
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An empirical study of identifier splitting techniques

Hill, Emily ; Binkley, David ; Lawrie, Dawn ; Pollock, Lori ; Vijay-Shanker, K.

Empirical software engineering : an international journal, 2014-12, Vol.19 (6), p.1754-1780 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness
An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness

Qusef, Abdallah ; Elish, Mahmoud O. ; Binkley, David

IEEE access, 2019, Vol.7, p.139526-139536 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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8
A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications
A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications

Swann, B.K. ; Blalock, B.J. ; Clonts, L.G. ; Binkley, D.M. ; Rochelle, J.M. ; Breeding, E. ; Baldwin, K.M.

IEEE journal of solid-state circuits, 2004-11, Vol.39 (11), p.1839-1852 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags
FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags

Binkley, David W. ; Harman, Mark ; Lakhotia, Kiran

ACM transactions on software engineering and methodology, 2011-08, Vol.20 (3), p.1-33 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

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10
An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics
An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics

Meyers, Timothy M. ; Binkley, David

ACM transactions on software engineering and methodology, 2007-12, Vol.17 (1), p.1-27 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

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  1. Schiller, C
  2. Willems, C
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Neste Assunto:

  1. Science & Technology
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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