Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories

Guertin, S.M. ; Nguyen, D.N. ; Patterson, J.D.

Jet Propulsion Laboratory: IEEE

Texto completo disponível

Analysis of radiation effects on individual DRAM cells

Scheick, L.Z. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M.

New York: IEEE

Texto completo disponível

Radiation effects on advanced flash memories

Nguyen, D.N. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M. ; Johnston, A.H.

United States: IEEE

Texto completo disponível

In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs

Swift, G.M. ; Guertin, S.M.

New York: IEEE

Texto completo disponível

Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor

Swift, G.M. ; Fannanesh, F.F. ; Guertin, S.M. ; Irom, F. ; Millward, D.G.

New York: IEEE

Texto completo disponível

Erratum: Strange and multistrange particle production in Au+Au collisions at s N N = 62.4 GeV [Phys. Rev. C 83 , 024901 (2011)]

Arkhipkin, D. ; Bellwied, R. ; Betancourt, M. J. ; Bouchet, J. ; Bruna, E. ; Bueltmann, S. ; Bunzarov, I. ; Cai, X. Z. ; Cebra, D. ; Chaloupka, P. ; Chattopadhyay, S. ; Cheng, J. ; Chikanian, A. ; Christie, W. ; Chung, P. ; Codrington, M. J. M. ; Debbe, R. R. ; Derevschikov, A. A. ; de Souza, R. Derradi ; Drachenberg, J. L. ; Draper, J. E. ; Efimov, L. G. ; Estienne, M. ; Fedorisin, J. ; Geromitsos, A. ; Geurts, F. ; Grebenyuk, O. ; Hajkova, O. ; Harris, J. W. ; Hays-Wehle, J. P. ; Huang, B. ; Judd, E. G. ; Kapitan, J. ; Knospe, A. G. ; Kollegger, T. ; Kouchpil, V. ; Krueger, K. ; Krus, M. ; Kumar, L. ; Lebedev, A. ; Li, X. ; Li, Z. M. ; Liu, F. ; Liu, H. ; Ljubicic, T. ; Lukashov, E. V. ; Ma, Y. G. ; Margetis, S. ; Masui, H. ; McShane, T. S. ; Meschanin, A. ; Milner, R. ; Munhoz, M. G. ; Naglis, M. ; Ng, M. J. ; Niida, T. ; Ohlson, A. ; Pachr, M. ; Pawlak, T. ; Plyku, D. ; Powell, C. B. ; Prindle, D. ; Putschke, J. ; Reed, R. ; Romero, J. L. ; Ruan, L. ; Sakai, S. ; Sakrejda, I. ; Salur, S. ; Schambach, J. ; Scharenberg, R. P. ; Schmah, A. M. ; Shahaliev, E. ; Shao, M. ; Simon, F. ; Speltz, J. ; Stringfellow, B. ; Suaide, A. A. P. ; Sun, Z. ; Tang, Z. ; Tarnowsky, T. ; Thein, D. ; Thomas, J. H. ; Tian, J. ; Trentalange, S. ; Van Buren, G. ; Varma, R. ; Wada, M. ; Webb, J. C. ; Whitten, C. ; Wieman, H. ; Witzke, W. ; Xie, W. ; Yepes, P. ; Yip, K. ; Yue, Q. ; Zbroszczyk, H. ; Zhang, Z. P. ; Zhao, J. ; Zoulkarneeva, Y.

Texto completo disponível

Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells

Edmonds, L.D. ; Guertin, S.M. ; Scheick, L.Z. ; Nguyen, D. ; Swift, G.M.

New York: IEEE

Texto completo disponível

Longitudinal Double-Spin Asymmetry and Cross Section for Inclusive Jet Production in Polarized Proton Collisions at s = 200     GeV

Anderson, M. ; Bekele, S. ; Bellingeri-Laurikainen, A. ; Bellwied, R. ; Bhardwaj, S. ; Bhasin, A. ; Bhati, A. K. ; Catu, O. ; Cebra, D. ; Chajecki, Z. ; Chen, H. F. ; Cherney, M. ; Das, D. ; Das, S. ; Dash, S. ; Dong, W. J. ; Dong, X. ; Dunin, V. B. ; Dunlop, J. C. ; Fachini, P. ; Fatemi, R. ; Gonzalez, J. E. ; Gos, H. ; Grosnick, D. ; Hallman, T. J. ; Heinz, M. ; Hepplemann, S. ; Hirsch, A. ; Horner, M. J. ; Huang, H. Z. ; Humanic, T. J. ; Igo, G. ; Jakl, P. ; Jia, F. ; Kaplan, M. ; Khodyrev, V. Yu ; Kim, B. C. ; Koetke, D. D. ; Kopytine, M. ; Kravtsov, P. ; Kravtsov, V. I. ; Kuznetsov, A. A. ; Landgraf, J. M. ; Lauret, J. ; Lednicky, R. ; Lehocka, S. ; Li, Q. ; Li, Y. ; Lin, G. ; Liu, J. ; Liu, L. ; Longacre, R. S. ; Love, W. A. ; Lu, Y. ; Martin, L. ; Millane, J. ; Moore, C. F. ; Nattrass, C. ; Ogawa, A. ; Olson, D. ; Pal, S. K. ; Perkins, C. ; Peryt, W. ; Picha, R. ; Planinic, M. ; Pluta, J. ; Poljak, N. ; Porile, N. ; Poskanzer, A. M. ; Pruneau, C. ; Ray, R. L. ; Rose, A. ; Roy, C. ; Sahoo, R. ; Sakuma, T. ; Schambach, J. ; Shao, M. ; Shimanskiy, S. S. ; Sood, G. ; Sorensen, P. ; Spinka, H. M. ; Strikhanov, M. ; Stringfellow, B. ; Surrow, B. ; Tai, A. ; Thein, D. ; Trentalange, S. ; Tribble, R. E. ; Tsai, O. D. ; Ullrich, T. ; Buren, G. Van ; Wang, X. L. ; Watson, J. W. ; Wetzler, A. ; Witt, R. ; Wood, J. ; Xu, N. ; Xu, Z. ; Zoulkarneeva, Y. ; Zubarev, A. N.

Texto completo disponível

Cross Sections and Transverse Single-Spin Asymmetries in Forward Neutral-Pion Production from Proton Collisions at s = 200     GeV

Ahammed, Z. ; Amonett, J. ; Anderson, M. ; Arkhipkin, D. ; Barnby, L. S. ; Bellwied, R. ; Bhardwaj, S. ; Billmeier, A. ; Brandin, A. ; Cai, X. Z. ; Castro, M. ; Chaloupka, P. ; Chen, Y. ; Chikanian, A. ; Christie, W. ; Cormier, T. M. ; Cramer, J. G. ; Crawford, H. J. ; Das, D. ; Draper, J. E. ; Eckardt, V. ; Emelianov, V. ; Faine, V. ; Fatemi, R. ; Fu, J. ; Gronstal, S. ; Gupta, A. ; Hardtke, D. ; Herston, T. ; Hoffmann, G. W. ; Horsley, M. ; Jacobs, P. ; Jacobs, W. W. ; Jones, P. G. ; Keane, D. ; Khodyrev, V. Yu ; Klay, J. ; Klyachko, A. ; Koetke, D. D. ; Kopytine, M. ; Kotchenda, L. ; Kravtsov, P. ; Krueger, K. ; Kuhn, C. ; Kunz, C. L. ; Lamont, M. A. C. ; Lange, S. ; Laue, F. ; Liu, Q. J. ; Ludlam, T. ; Lynn, D. ; Mahapatra, D. P. ; Majka, R. ; Matulenko, Yu. A. ; Meschanin, A. ; Messer, M. ; Miller, M. L. ; Mironov, C. ; Mitchell, J. ; Molnar, L. ; Norman, B. ; Nurushev, S. B. ; Okorokov, V. ; Perevoztchikov, V. ; Porter, J. ; Prindle, D. ; Raniwala, R. ; Raniwala, S. ; Razin, S. V. ; Reichhold, D. ; Reid, J. G. ; Rose, A. ; Roy, C. ; Sahoo, R. ; Schweda, K. ; Shao, M. ; Sharma, M. ; Shimanskii, S. S. ; Sood, G. ; Sowinski, J. ; Srivastava, B. ; Stock, R. ; Sugarbaker, E. ; Suire, C. ; Tang, A. H. ; Tonjes, M. B. ; Tsai, O. ; Van Buren, G. ; Viyogi, Y. P. ; Waggoner, W. ; Wang, G. ; Ward, H. ; Whitten, C. ; Wieman, H. ; Willson, R. ; Witt, R. ; Xu, Z. Z. ; Yamamoto, E. ; Zborovský, I. ; Żołnierczuk, P. A.

Texto completo disponível

Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis

Guertin, S.M. ; Edmonds, L.D. ; Swift, G.M.

New York: IEEE

Texto completo disponível