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A Reliability-Enhanced Differential Sensing Amplifier for Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuits
A Reliability-Enhanced Differential Sensing Amplifier for Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuits
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A Reliability-Enhanced Differential Sensing Amplifier for Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuits

Wang, Chengzhi ; Yang, Tianqi ; Han, Min ; Wang, Dongsheng

Electronics (Basel), 2023-01, Vol.12 (2), p.447 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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Carbon Nanotube Field Effect Transistor (CNTFET) and Resistive Random Access Memory (RRAM) Based Ternary Combinational Logic Circuits
Carbon Nanotube Field Effect Transistor (CNTFET) and Resistive Random Access Memory (RRAM) Based Ternary Combinational Logic Circuits
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Carbon Nanotube Field Effect Transistor (CNTFET) and Resistive Random Access Memory (RRAM) Based Ternary Combinational Logic Circuits

Zahoor, Furqan ; Hussin, Fawnizu Azmadi ; Khanday, Farooq Ahmad ; Ahmad, Mohamad Radzi ; Mohd Nawi, Illani ; Ooi, Chia Yee ; Rokhani, Fakhrul Zaman

Electronics (Basel), 2021-01, Vol.10 (1), p.79 [Periódico revisado por pares]

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Fault Modeling of Graphene Nanoribbon FET Logic Circuits
Fault Modeling of Graphene Nanoribbon FET Logic Circuits
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Fault Modeling of Graphene Nanoribbon FET Logic Circuits

Gil-Tomàs ; Gracia-Morán ; Saiz-Adalid ; Gil-Vicente

Electronics (Basel), 2019-08, Vol.8 (8), p.851 [Periódico revisado por pares]

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Design and Validation of a V-Gate n-MOSFET-Based RH CMOS Logic Circuit with Tolerance to the TID Effect
Design and Validation of a V-Gate n-MOSFET-Based RH CMOS Logic Circuit with Tolerance to the TID Effect
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Design and Validation of a V-Gate n-MOSFET-Based RH CMOS Logic Circuit with Tolerance to the TID Effect

Ki, Donghan ; Lee, Minwoong ; Lee, Namho ; Cho, Seongik

Electronics (Basel), 2023-08, Vol.12 (15), p.3331 [Periódico revisado por pares]

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A Neuron Model with Dendrite Morphology for Classification
A Neuron Model with Dendrite Morphology for Classification
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A Neuron Model with Dendrite Morphology for Classification

Song, Shuangbao ; Chen, Xingqian ; Song, Shuangyu ; Todo, Yuki

Electronics (Basel), 2021-05, Vol.10 (9), p.1062 [Periódico revisado por pares]

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A C/X/Ku/K-Band Precision Compact 6-Bit Digital Attenuator with Logic Control Circuits
A C/X/Ku/K-Band Precision Compact 6-Bit Digital Attenuator with Logic Control Circuits
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A C/X/Ku/K-Band Precision Compact 6-Bit Digital Attenuator with Logic Control Circuits

Zeng, Jialong ; Li, Jiaxuan ; Yuan, Yang ; Tan, Cheng ; Yu, Zhongjun

Electronics (Basel), 2022-11, Vol.11 (21), p.3620 [Periódico revisado por pares]

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Progress on Memristor-Based Analog Logic Operation
Progress on Memristor-Based Analog Logic Operation
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Progress on Memristor-Based Analog Logic Operation

Huang, Yufei ; Li, Shuhui ; Yang, Yaguang ; Chen, Chengying

Electronics (Basel), 2023-05, Vol.12 (11), p.2486 [Periódico revisado por pares]

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Application of Metal Oxide Memristor Models in Logic Gates
Application of Metal Oxide Memristor Models in Logic Gates
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Application of Metal Oxide Memristor Models in Logic Gates

Mladenov, Valeri

Electronics (Basel), 2023-01, Vol.12 (2), p.381 [Periódico revisado por pares]

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9
Characteristics Analysis of IGZO TFT and Logic Unit in the Temperature Range of 8–475 K
Characteristics Analysis of IGZO TFT and Logic Unit in the Temperature Range of 8–475 K
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Characteristics Analysis of IGZO TFT and Logic Unit in the Temperature Range of 8–475 K

Wang, Jianjian ; Bi, Jinshun ; Xu, Gaobo ; Liu, Mengxin

Electronics (Basel), 2024-04, Vol.13 (8), p.1427 [Periódico revisado por pares]

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10
Polymorphic Hybrid CMOS-MTJ Logic Gates for Hardware Security Applications
Polymorphic Hybrid CMOS-MTJ Logic Gates for Hardware Security Applications
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Polymorphic Hybrid CMOS-MTJ Logic Gates for Hardware Security Applications

Kumar, Rajat ; Divyanshu, Divyanshu ; Khan, Danial ; Amara, Selma ; Massoud, Yehia

Electronics (Basel), 2023-02, Vol.12 (4), p.902 [Periódico revisado por pares]

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