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Refinado por: Base de dados/Biblioteca: IngentaConnect Journals remover Nome da Publicação: Thin Solid Films remover
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1
Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices
Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices
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Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices

Granqvist, Claes G.

Thin solid films, 2014-08, Vol.564, p.1-38 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
A kinetic analysis of residual stress evolution in polycrystalline thin films
A kinetic analysis of residual stress evolution in polycrystalline thin films
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A kinetic analysis of residual stress evolution in polycrystalline thin films

Chason, Eric

Thin solid films, 2012-12, Vol.526, p.1-14 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Growth, dielectric properties, and memory device applications of ZrO2 thin films
Growth, dielectric properties, and memory device applications of ZrO2 thin films
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Growth, dielectric properties, and memory device applications of ZrO2 thin films

Panda, Debashis ; Tseng, Tseung-Yuen

Thin solid films, 2013-03, Vol.531, p.1-20 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Durability of thermochromic VO2 thin films under heating and humidity: Effect of Al oxide top coatings
Durability of thermochromic VO2 thin films under heating and humidity: Effect of Al oxide top coatings
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Durability of thermochromic VO2 thin films under heating and humidity: Effect of Al oxide top coatings

Ji, Yu-Xia ; Li, Shu-Yi ; Niklasson, Gunnar A. ; Granqvist, Claes G.

Thin solid films, 2014-07, Vol.562, p.568-573 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Simple sol–gel process and one-step annealing of vanadium dioxide thin films: Synthesis and thermochromic properties
Simple sol–gel process and one-step annealing of vanadium dioxide thin films: Synthesis and thermochromic properties
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Simple sol–gel process and one-step annealing of vanadium dioxide thin films: Synthesis and thermochromic properties

Wang, N. ; Magdassi, S. ; Mandler, D. ; Long, Y.

Thin solid films, 2013-05, Vol.534, p.594-598 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Formation of α-approximant and quasicrystalline Al–Cu–Fe thin films
Formation of α-approximant and quasicrystalline Al–Cu–Fe thin films
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Formation of α-approximant and quasicrystalline Al–Cu–Fe thin films

Olsson, Simon ; Eriksson, Fredrik ; Birch, Jens ; Hultman, Lars

Thin solid films, 2012-12, Vol.526, p.74-80 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Growth optimization of ZnxCd1−xS thin films by radio frequency magnetron co-sputtering for solar cell applications
Growth optimization of ZnxCd1−xS thin films by radio frequency magnetron co-sputtering for solar cell applications
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Growth optimization of ZnxCd1−xS thin films by radio frequency magnetron co-sputtering for solar cell applications

Hossain, M.S. ; Islam, M.A. ; Huda, Q. ; Aliyu, M.M. ; Razykov, T. ; Alam, M.M. ; AlOthman, Z.A. ; Sopian, K. ; Amin, N.

Thin solid films, 2013-12, Vol.548, p.202-209 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Influence of various sol concentrations on stress/strain and properties of ZnO thin films synthesised by sol–gel technique
Influence of various sol concentrations on stress/strain and properties of ZnO thin films synthesised by sol–gel technique
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Influence of various sol concentrations on stress/strain and properties of ZnO thin films synthesised by sol–gel technique

Malek, Mohd Firdaus ; Mamat, Mohamad Hafiz ; Sahdan, Mohd Zainizan ; Zahidi, Musa Mohamed ; Khusaimi, Zuraida ; Mahmood, Mohamad Rusop

Thin solid films, 2013-01, Vol.527, p.102-109 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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9
Role of film thickness on the properties of ZnO thin films grown by sol-gel method
Role of film thickness on the properties of ZnO thin films grown by sol-gel method
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Role of film thickness on the properties of ZnO thin films grown by sol-gel method

Kumar, Vinod ; Singh, Neetu ; Mehra, R.M. ; Kapoor, Avinashi ; Purohit, L.P. ; Swart, H.C.

Thin solid films, 2013-07, Vol.539, p.161-165 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al–Cr–Si–N thin films
Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al–Cr–Si–N thin films
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al–Cr–Si–N thin films

Tritremmel, C. ; Daniel, R. ; Lechthaler, M. ; Polcik, P. ; Mitterer, C.

Thin solid films, 2013-05, Vol.534, p.403-409 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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