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Record indoor magnetic field of 1200 T generated by electromagnetic flux-compression
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Record indoor magnetic field of 1200 T generated by electromagnetic flux-compression

Nakamura, D. ; Ikeda, A. ; Sawabe, H. ; Matsuda, Y. H. ; Takeyama, S.

Review of scientific instruments, 2018-09, Vol.89 (9), p.095106-095106 [Periódico revisado por pares]

United States

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2
One-dimensional Kac model of dense amorphous hard spheres
One-dimensional Kac model of dense amorphous hard spheres
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One-dimensional Kac model of dense amorphous hard spheres

Ikeda, H. ; Ikeda, A.

Europhysics letters, 2015-08, Vol.111 (4), p.40007-p1-40007-p6 [Periódico revisado por pares]

EDP Sciences, IOP Publishing and Società Italiana di Fisica

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Particle-Hole Symmetry Breaking in a Spin-Dimer System TlCuCl3 Observed at 100 T
Particle-Hole Symmetry Breaking in a Spin-Dimer System TlCuCl3 Observed at 100 T
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Particle-Hole Symmetry Breaking in a Spin-Dimer System TlCuCl3 Observed at 100 T

Zhou, X-G ; Yao, Yuan ; Matsuda, Y H ; Ikeda, A ; Matsuo, A ; Kindo, K ; Tanaka, H

Physical review letters, 2020-12, Vol.125 (26), p.1 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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4
Higher magnetic-field generation by a mass-loaded single-turn coil
Higher magnetic-field generation by a mass-loaded single-turn coil
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Higher magnetic-field generation by a mass-loaded single-turn coil

Gen, M. ; Ikeda, A. ; Kawachi, S. ; Shitaokoshi, T. ; Matsuda, Y. H. ; Kohama, Y. ; Nomura, T.

Review of scientific instruments, 2021-03, Vol.92 (3), p.033902-033902 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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5
Controlled synthesis of the antiperovskite oxide superconductor Sr3−xSnO
Controlled synthesis of the antiperovskite oxide superconductor Sr3−xSnO
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Controlled synthesis of the antiperovskite oxide superconductor Sr3−xSnO

Hausmann, J N ; Oudah, M ; Ikeda, A ; Yonezawa, S ; Maeno, Y

Superconductor science & technology, 2018-04, Vol.31 (5) [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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6
Comment on "Constant Stress and Pressure Rheology of Colloidal Suspensions"
Comment on "Constant Stress and Pressure Rheology of Colloidal Suspensions"
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Comment on "Constant Stress and Pressure Rheology of Colloidal Suspensions"

Ikeda, A ; Berthier, L ; Sollich, P

Physical review letters, 2016-04, Vol.116 (17), p.179801-179801, Article 179801 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

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7
Numerical and theoretical study of a monodisperse hard-sphere glass former
Numerical and theoretical study of a monodisperse hard-sphere glass former
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Numerical and theoretical study of a monodisperse hard-sphere glass former

Charbonneau, P ; Ikeda, A ; van Meel, J A ; Miyazaki, K

Physical review. E, Statistical, nonlinear, and soft matter physics, 2010-04, Vol.81 (4 Pt 1), p.040501-040501, Article 040501 [Periódico revisado por pares]

United States

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8
Cascade Auger decays following Si KL23L23 Auger transitions in SiF4
Cascade Auger decays following Si KL23L23 Auger transitions in SiF4
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Cascade Auger decays following Si KL23L23 Auger transitions in SiF4

Suzuki, I H ; Kono, Y ; Ikeda, A ; Oi, M ; Ouchi, T ; Ueda, K ; Tamenori, Y ; Takahashi, O ; Nagaoka, S

The Journal of chemical physics, 2013-01, Vol.138 (2), p.024302-024302 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Field-induced valence fluctuations in YbB12
Field-induced valence fluctuations in YbB12
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Field-induced valence fluctuations in YbB12

Kurihara, R ; Miyake, A ; Tokunaga, M ; Ikeda, A ; Matsuda, Y H ; Miyata, A ; Gorbunov, D I ; Nomura, T ; Zherlitsyn, S ; Wosnitza, J ; Iga, F

Physical review. B, 2021-03, Vol.103 (11), p.1 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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10
Grip-force control of an elastic object by vision-based slip-margin feedback during the incipient slip
Grip-force control of an elastic object by vision-based slip-margin feedback during the incipient slip
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Grip-force control of an elastic object by vision-based slip-margin feedback during the incipient slip

Ueda, J. ; Ikeda, A. ; Ogasawara, T.

IEEE transactions on robotics, 2005-12, Vol.21 (6), p.1139-1147 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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