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Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA a new computational tool
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA a new computational tool
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA a new computational tool

Cleber Lima Rodrigues Marcia de Almeida Rizzutto; Tiago Fiorini da Silva; B M Mayer; Nemitala Added; Marcia de Almeida Rizzutto; Manfredo Harri Tabacniks; Encontro de Física ( 2016 Natal, RN, Brasil ); National Meeting on Condensed Matter Physics ( 2016 Natal, RN, Brasil 39 )

Posters - Resumo São Paulo: SBF, 2016

São Paulo SBF 2016

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Deste Autor:

  1. Tabacniks, M
  2. Encontro de Física
  3. Added, N
  4. Silva, T
  5. National Meeting on Condensed Matter Physics

Neste Assunto:

  1. Espalhamento
  2. Física Da Matéria Condensada
  3. Feixes
  4. Detetores
  5. Softwares

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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