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Leakage Current Behavior in HfO 2 /SiO 2 /Al 2 O 3 Stacked Dielectric on 4H-SiC Substrate
Leakage Current Behavior in HfO 2 /SiO 2 /Al 2 O 3 Stacked Dielectric on 4H-SiC Substrate
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Leakage Current Behavior in HfO 2 /SiO 2 /Al 2 O 3 Stacked Dielectric on 4H-SiC Substrate

Huang, Hao ; Wang, Ying ; Chen, Ke-Han ; Fei, Xin-Xing

Electron Devices Society, IEEE Journal of the, 2023, Vol.11, p.438-443

IEEE

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2
Single DNA Translocation and Electrical Characterization Based on Atomic Force Microscopy and Nanoelectrodes
Single DNA Translocation and Electrical Characterization Based on Atomic Force Microscopy and Nanoelectrodes
Material Type:
Standard 		Adicionar ao Meu Espaço

Single DNA Translocation and Electrical Characterization Based on Atomic Force Microscopy and Nanoelectrodes

Ma, Bo ; Kim, Jin-Woo ; Tung, Steve

Nanotechnology, IEEE Open Journal of, 2022, Vol.3, p.124-130

IEEE

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