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Refinado por: assunto: Difração Por Raios X remover
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1
Elements of x-ray diffraction
Elements of x-ray diffraction
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Elements of x-ray diffraction

B. D. Cullity (Bernard Dennis) Stuart R Stock

Upper Saddle River, NJ Prentice Hall c2001

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2
Refinamento de estruturas cristalinas por difração de raios-x pelo método de mínimos quadrados utilizando dados de amostras policristalinas.
Refinamento de estruturas cristalinas por difração de raios-x pelo método de mínimos quadrados utilizando dados de amostras policristalinas.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Refinamento de estruturas cristalinas por difração de raios-x pelo método de mínimos quadrados utilizando dados de amostras policristalinas.

Simone, Carlos Alberto De

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física e Química de São Carlos 1983-03-11

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3
Efeito dos íons da série de Hofmeister em sistemas micelares
Efeito dos íons da série de Hofmeister em sistemas micelares
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Efeito dos íons da série de Hofmeister em sistemas micelares

Barros, Vicente Pereira De

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2003-02-13

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4
Cristalografia de alguns compostos organo-sintéticos e complexos de transições f e d por difração de raios X.
Cristalografia de alguns compostos organo-sintéticos e complexos de transições f e d por difração de raios X.
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Cristalografia de alguns compostos organo-sintéticos e complexos de transições f e d por difração de raios X.

Simone, Carlos Alberto De

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física e Química de São Carlos 1989-08-04

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5
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials

Vitalij K. Pecharsky Peter Y Zavalij; Peter Zavalij

Springer US 2003

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6
Time-resolved diffraction
Time-resolved diffraction
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Time-resolved diffraction

John R Helliwell; Peter M Rentzepis 1934-

Oxford Clarendon Press New York Oxford University Press 1997

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (548.83 H477t )(Acessar)

7
X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials

Harold Philip Klug 1902- Leroy Elbert Alexander 1910-

New York Wiley 1974

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (548.83 K66x 1974 e.2 ) e outros locais(Acessar)

8
Optical transforms their preparation and application to X-ray diffraction problems
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical transforms their preparation and application to X-ray diffraction problems

Charles Alfred Taylor H Lipson (Henry) 1910-

Ithaca, N.Y. Cornell University Press 1965, c1964

Localização: IGC - Instituto de Geociências    (537.5352 T239o )(Acessar)

9
Determinação da estrutura cristalográfica e estudo teórico de compostos de base de Schiff
Determinação da estrutura cristalográfica e estudo teórico de compostos de base de Schiff
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Determinação da estrutura cristalográfica e estudo teórico de compostos de base de Schiff

Santos, Sinara De Fátima Freire Dos

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Química de São Carlos 2017-05-19

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10
Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria
Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria

Galvao, Antonio De Sant'Ana

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares 2011-05-05

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Deste Autor:

  1. Ellena, J
  2. Diniz, L
  3. Pinto, H
  4. Schell, N
  5. Oliveira, A

Neste Assunto:

  1. X-Ray Diffraction
  2. Difração De Raios X
  3. X-Rays
  4. Cristalografia
  5. Espectroscopia Raman

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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