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Three-dimensional rotation electron diffraction: software RED for automated data collection and data processing
Three-dimensional rotation electron diffraction: software RED for automated data collection and data processing
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Three-dimensional rotation electron diffraction: software RED for automated data collection and data processing

Wan, Wei ; Sun, Junliang ; Su, Jie ; Hovmöller, Sven ; Zou, Xiaodong

Journal of applied crystallography, 2013-12, Vol.46 (6), p.1863-1873 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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2
ReciPro: free and open‐source multipurpose crystallographic software integrating a crystal model database and viewer, diffraction and microscopy simulators, and diffraction data analysis tools
ReciPro: free and open‐source multipurpose crystallographic software integrating a crystal model database and viewer, diffraction and microscopy simulators, and diffraction data analysis tools
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ReciPro: free and open‐source multipurpose crystallographic software integrating a crystal model database and viewer, diffraction and microscopy simulators, and diffraction data analysis tools

Seto, Yusuke ; Ohtsuka, Masahiro

Journal of applied crystallography, 2022-04, Vol.55 (2), p.397-410 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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3
3D grain reconstruction from laboratory diffraction contrast tomography
3D grain reconstruction from laboratory diffraction contrast tomography
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3D grain reconstruction from laboratory diffraction contrast tomography

Bachmann, Florian ; Bale, Hrishikesh ; Gueninchault, Nicolas ; Holzner, Christian ; Lauridsen, Erik Mejdal

Journal of applied crystallography, 2019-06, Vol.52 (3), p.643-651 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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4
Geometrical‐optics formalism to model contrast in dark‐field X‐ray microscopy
Geometrical‐optics formalism to model contrast in dark‐field X‐ray microscopy
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Geometrical‐optics formalism to model contrast in dark‐field X‐ray microscopy

Poulsen, H. F. ; Dresselhaus-Marais, L. E. ; Carlsen, M. A. ; Detlefs, C. ; Winther, G.

Journal of applied crystallography, 2021-12, Vol.54 (6), p.1555-1571 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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5
High‐resolution X‐ray Bragg diffraction in Al thermomigrated Si channels
High‐resolution X‐ray Bragg diffraction in Al thermomigrated Si channels
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High‐resolution X‐ray Bragg diffraction in Al thermomigrated Si channels

Lomov, Andrey A. ; Punegov, Vasily I. ; Belov, Alexander Yu ; Seredin, Boris M.

Journal of applied crystallography, 2022-06, Vol.55 (3), p.558-568 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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Dynamical and kinematical X‐ray diffraction in a bent crystal
Dynamical and kinematical X‐ray diffraction in a bent crystal
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Dynamical and kinematical X‐ray diffraction in a bent crystal

Malkov, Dmitry M. ; Punegov, Vasily

Journal of applied crystallography, 2024-04, Vol.57 (2), p.296-305 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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7
Double‐slit asymmetrical dynamical diffraction of X‐rays in ideal crystals
Double‐slit asymmetrical dynamical diffraction of X‐rays in ideal crystals
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Double‐slit asymmetrical dynamical diffraction of X‐rays in ideal crystals

Balyan, Minas

Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2024-03, Vol.80 (2), p.161-166 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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8
Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction
Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction
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Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction

Ferrer Orri, Jordi ; Doherty, Tiarnan A.S. ; Johnstone, Duncan ; Collins, Sean M. ; Simons, Hugh ; Midgley, Paul A. ; Ducati, Caterina ; Stranks, Samuel D.

Advanced materials (Weinheim), 2022-05, Vol.34 (18), p.e2200383-n/a [Periódico revisado por pares]

Germany: Wiley Subscription Services, Inc

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High-resolution characterization of the forbidden Si 200 and Si 222 reflections
High-resolution characterization of the forbidden Si 200 and Si 222 reflections
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High-resolution characterization of the forbidden Si 200 and Si 222 reflections

Zaumseil, Peter

Journal of applied crystallography, 2015-04, Vol.48 (2), p.528-532 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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10
Combined X‐ray and neutron single‐crystal diffraction in diamond anvil cells
Combined X‐ray and neutron single‐crystal diffraction in diamond anvil cells
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Combined X‐ray and neutron single‐crystal diffraction in diamond anvil cells

Grzechnik, Andrzej ; Meven, Martin ; Paulmann, Carsten ; Friese, Karen

Journal of applied crystallography, 2020-02, Vol.53 (1), p.9-14 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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