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Refinado por: Nome da Publicação: Infrared Physics & Technology remover
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BL43IR at SPring-8 redirected
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Moriwaki, Taro ; Ikemoto, Yuka

Infrared physics & technology, 2008-05, Vol.51 (5), p.400-403 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Increasing FTIR spectromicroscopy speed and resolution through compressive imaging
Increasing FTIR spectromicroscopy speed and resolution through compressive imaging
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Increasing FTIR spectromicroscopy speed and resolution through compressive imaging

Gallet, Julien ; Riley, Michael ; Hao, Zhao ; Martin, Michael C.

Infrared physics & technology, 2008-05, Vol.51 (5), p.420-422 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Broad band infrared near-field spectroscopy at finger print region using SPring-8
Broad band infrared near-field spectroscopy at finger print region using SPring-8
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Broad band infrared near-field spectroscopy at finger print region using SPring-8

Ikemoto, Y. ; Moriwaki, T. ; Okamura, H. ; Sasaki, T. ; Yoneyama, N. ; Taguchi, A. ; Inouye, Y. ; Kawata, S. ; Kinoshita, T.

Infrared physics & technology, 2008-05, Vol.51 (5), p.417-419 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Infrared characterization of localized corrosion products
Infrared characterization of localized corrosion products
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Infrared characterization of localized corrosion products

Morikawa, Eizi ; Kizilkaya, Orhan ; Perkins, Richard S.

Infrared physics & technology, 2008-05, Vol.51 (5), p.407-409 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Temperature dependence of infrared reflectance spectra of InN
Temperature dependence of infrared reflectance spectra of InN
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Temperature dependence of infrared reflectance spectra of InN

Kurihara, K. ; Yanagawa, T. ; Nakagawa, N. ; Fukui, K. ; Yamamoto, A.

Infrared physics & technology, 2008-05, Vol.51 (5), p.482-484 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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