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Refinado por: Nome da Publicação: Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada remover
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Abstracts of the German Society of Electron Microscopy 31st Annual Meeting. Dresden, Germany, 7-12 September 2003
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Abstracts of the German Society of Electron Microscopy 31st Annual Meeting. Dresden, Germany, 7-12 September 2003

Microscopy and microanalysis, 2003, Vol.9 Suppl 3, p.1-540 [Periódico revisado por pares]

United States

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Proceedings of Microscopy and Microanalysis 2003, the VII InterAmerican Congress on Electron Microscopy. San Antonio, Texas, USA. August 3-7, 2003
Proceedings of Microscopy and Microanalysis 2003, the VII InterAmerican Congress on Electron Microscopy. San Antonio, Texas, USA. August 3-7, 2003
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Proceedings of Microscopy and Microanalysis 2003, the VII InterAmerican Congress on Electron Microscopy. San Antonio, Texas, USA. August 3-7, 2003

Microscopy and microanalysis, 2003, Vol.9 Suppl 2, p.1-279 [Periódico revisado por pares]

United States

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Characterization of Nonconductive Materials. Proceedings of a conference. August 2-3, 2002. Montreal, Canada
Characterization of Nonconductive Materials. Proceedings of a conference. August 2-3, 2002. Montreal, Canada
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Characterization of Nonconductive Materials. Proceedings of a conference. August 2-3, 2002. Montreal, Canada

Microscopy and microanalysis, 2004-12, Vol.10 (6), p.669-809 [Periódico revisado por pares]

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Proceedings of a symposium in honor of Professor Sir John Meurig Thomas
Proceedings of a symposium in honor of Professor Sir John Meurig Thomas
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Proceedings of a symposium in honor of Professor Sir John Meurig Thomas

Microscopy and microanalysis, 2002-02, Vol.8 (1), p.2-69 [Periódico revisado por pares]

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