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Filmes Finos
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Material Type: Livro
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral NanostructuresPietsch, Ullrich ; Holý, Václav ; Baumbach, TiloNew York, NY: Springer New York 2004Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Medidas de Transmitancia Espectral sin la Presencia de Franjas de Interferencia: Un Modelo para la Obtención de las Constantes Ópticas en Películas Delgadas SemiconductorasLópez Ospina, Sandra Marcela ; Calderón Cómbita, Jorge Arturo ; Dussan Cuenca, Anderson ; Quiroz Gaitán, Heiddy PaolaRevista EIA, 2014 (1), p.61-67 [Periódico revisado por pares]Escuela de Ingeniería de AntioquíaTexto completo disponível |
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Material Type: Tese
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Modificação superficial de filmes finos poliméricos por feixe de íons e tratamentos térmicosPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul 2018Texto completo disponível |
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Material Type: magazinearticle
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Filmes finos de SrBi2Ta2O9 processados em forno microondas SrBi2Ta2O9 thin films processed in microwave ovenJ. S. Vasconcelos ; N. S. L. S. Vasconcelos ; S. M. Zanetti ; J. W. Gomes ; E. Longo ; E. R. Leite ; J. A. VarelaCerâmica (São Paulo), 2003-03, Vol.49 (309), p.61-65 [Periódico revisado por pares]Associação Brasileira de CerâmicaTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Surface roughness as a function of the DLC thickness coatingMaria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori Deilton Reis Martins; Mauro Sérgio Dorsa Cattani; Nanotechnology Conference and Trade Show 2005 Anaheim, CaliforniaProgramCambridge NITS 2005Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin filmsL L Melo A R Vaz; Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Mauro Sérgio Dorsa CattaniJournal of Metastable and Nanocrystalline Materials v. 20-21, p. 623-628, 2004Switzerland 2004Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Anisotropic resistivity of thin films due to quantum electron scattering from anisotropic surface roughnessMaria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori Mauro Sérgio Dorsa Cattani; F S Teixeira; R S Wiederkehr; I G BrownJournal of Vacuum Science & Technology A v. 25, n. 2, p.330-333, 2007New York 2007Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin filmsL L Melo A R Vaz; Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Mauro Sérgio Dorsa CattaniJournal of Metastable and Nanocrystalline Materials v. 20-21, p. 623-628, 2004Switzerland 2004Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Anisotropic resistivity of thin films due to quantum electron scattering from anisotropic surface roughnessMaria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori Mauro Sérgio Dorsa Cattani; F S Teixeira; R S Wiederkehr; I G BrownJournal of Vacuum Science & Technology A v. 25, n. 2, p.330-333, 2007New York 2007Acesso online |
| 10 |
Material Type: Artigo
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Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivityMauro Sérgio Dorsa Cattani A R Vaz; Rodrigo Sérgio Wiederkehr; Fernanda de Sá Teixeira; Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; I G BrownSurface Review and Letters v. 14, n. 1, p. 87-91, 2007Singapore 2007Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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