skip to main content
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Production and application of electron vortex beams
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Production and application of electron vortex beams

Verbeeck, J ; Tian, H ; Schattschneider, P

Nature (London), 2010-09, Vol.467 (7313), p.301-304 [Periódico revisado por pares]

London: Nature Publishing Group

Texto completo disponível

2
Resolution Limits of Electron-Beam Lithography toward the Atomic Scale
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Resolution Limits of Electron-Beam Lithography toward the Atomic Scale

Manfrinato, Vitor R ; Zhang, Lihua ; Su, Dong ; Duan, Huigao ; Hobbs, Richard G ; Stach, Eric A ; Berggren, Karl K

Nano letters, 2013-04, Vol.13 (4), p.1555-1558 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

Texto completo disponível

3
Dynamics of Chemical Bonding Mapped by Energy-Resolved 4D Electron Microscopy
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Dynamics of Chemical Bonding Mapped by Energy-Resolved 4D Electron Microscopy

Carbone, Fabrizio ; Kwon, Oh-Hoon ; Zewail, Ahmed H

Science (American Association for the Advancement of Science), 2009-07, Vol.325 (5937), p.181-184 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

4
Direct Sub-Angstrom Imaging of a Crystal Lattice
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Direct Sub-Angstrom Imaging of a Crystal Lattice

Nellist, P. D. ; Chisholm, M. F. ; Dellby, N. ; Krivanek, O. L. ; Murfitt, M. F. ; Szilagyi, Z. S. ; Lupini, A. R. ; Borisevich, A. ; Sides, W. H. ; Pennycook, S. J.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2004-09, Vol.305 (5691), p.1741-1741 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

5
Four-Dimensional Electron Microscopy
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Four-Dimensional Electron Microscopy

Zewail, Ahmed H.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2010-04, Vol.328 (5975), p.187-193 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

6
Quantum plasmon resonances of individual metallic nanoparticles
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Quantum plasmon resonances of individual metallic nanoparticles

SCHOLL, Jonathan A ; LEEN KOH, Ai ; DIONNE, Jennifer A

Nature (London), 2012-03, Vol.483 (7390), p.421-427 [Periódico revisado por pares]

London: Nature Publishing Group

Texto completo disponível

7
Electron Vortex Beams with High Quanta of Orbital Angular Momentum
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electron Vortex Beams with High Quanta of Orbital Angular Momentum

McMorran, Benjamin J ; Agrawal, Amit ; Anderson, Ian M ; Herzing, Andrew A ; Lezec, Henri J ; McClelland, Jabez J ; Unguris, John

Science (American Association for the Advancement of Science), 2011-01, Vol.331 (6014), p.192-195 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

8
3D electron microscopy in the physical sciences: the development of Z-contrast and EFTEM tomography
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

3D electron microscopy in the physical sciences: the development of Z-contrast and EFTEM tomography

Midgley, P.A. ; Weyland, M.

Ultramicroscopy, 2003-09, Vol.96 (3), p.413-431 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

9
Atomic-Scale Chemical Imaging of Composition and Bonding by Aberration-Corrected Microscopy
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Atomic-Scale Chemical Imaging of Composition and Bonding by Aberration-Corrected Microscopy

Muller, D.A ; Kourkoutis, L. Fitting ; Murfitt, M ; Song, J.H ; Hwang, H.Y ; Silcox, J ; Dellby, N ; Krivanek, O.L

Science (American Association for the Advancement of Science), 2008-02, Vol.319 (5866), p.1073-1076 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

10
4D Imaging of Transient Structures and Morphologies in Ultrafast Electron Microscopy
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

4D Imaging of Transient Structures and Morphologies in Ultrafast Electron Microscopy

Barwick, Brett ; Park, Hyun Soon ; Kwon, Oh-Hoon ; Baskin, J. Spencer ; Zewail, Ahmed H

Science (American Association for the Advancement of Science), 2008-11, Vol.322 (5905), p.1227-1231 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

Texto completo disponível

Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Recursos Online (164.398)
  2. Revistas revisadas por pares (154.362)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (172.734)
  2. Anais de Congresso  (3.445)
  3. magazinearticle  (98)
  4. Book Chapters  (8)
  5. Resenhas  (1)
  6. Livros  (1)
  7. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1985  (5.734)
  2. 1985Até1992  (37.345)
  3. 1993Até2000  (34.807)
  4. 2001Até2009  (53.472)
  5. Após 2009  (44.975)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Japonês  (35.542)
  2. Alemão  (152)
  3. Francês  (101)
  4. Holandês  (45)
  5. Espanhol  (10)
  6. Russo  (6)
  7. Norueguês  (3)
  8. Português  (3)
  9. Italiano  (2)
  10. Chinês  (2)
  11. Estoniano  (2)
  12. Sueco  (1)
  13. Ndongo  (1)
  14. Mais opções open sub menu

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.