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1	$Anti-contamination device for cryogenic soft X-ray diffraction microscopy$ $Anti-contamination device for cryogenic soft X-ray diffraction microscopy$ Material Type: Artículo		Anti-contamination device for cryogenic soft X-ray diffraction microscopy Huang, Xiaojing ; Miao, Huijie ; Nelson, Johanna ; Turner, Joshua ; Steinbrener, Jan ; Shapiro, David ; Kirz, Janos ; Jacobsen, Chris Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2011-05, Vol.638 (1), p.171-175 [Revista revisada por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por
2	$Data preparation and evaluation techniques for x-ray diffraction microscopy$ $Data preparation and evaluation techniques for x-ray diffraction microscopy$ Material Type: Artículo		Data preparation and evaluation techniques for x-ray diffraction microscopy Steinbrener, Jan ; Nelson, Johanna ; Huang, Xiaojing ; Marchesini, Stefano ; Shapiro, David ; Turner, Joshua J ; Jacobsen, Chris Optics express, 2010-08, Vol.18 (18), p.18598-18614 [Revista revisada por pares] United States: Optical Society of America (OSA) Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por
3	$High-resolution x-ray diffraction microscopy of specifically labeled yeast cells$ $High-resolution x-ray diffraction microscopy of specifically labeled yeast cells$ Material Type: Artículo		High-resolution x-ray diffraction microscopy of specifically labeled yeast cells Nelson, Johanna ; Huang, Xiaojing ; Steinbrener, Jan ; Shapiro, David ; Kirz, Janos ; Marchesini, Stefano ; Neiman, Aaron M ; Turner, Joshua J ; Jacobsen, Chris Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 2010-04, Vol.107 (16), p.7235-7239 [Revista revisada por pares] United States: National Academy of Sciences Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por
4	$Signal-to-noise and radiation exposure considerations in conventional and diffraction x-ray microscopy$ $Signal-to-noise and radiation exposure considerations in conventional and diffraction x-ray microscopy$ Material Type: Artículo		Signal-to-noise and radiation exposure considerations in conventional and diffraction x-ray microscopy Huang, Xiaojing ; Miao, Huijie ; Steinbrener, Jan ; Nelson, Johanna ; Shapiro, David ; Stewart, Andrew ; Turner, Joshua ; Jacobsen, Chris Optics express, 2009-08, Vol.17 (16), p.13541-13553 [Revista revisada por pares] United States: Optical Society of America (OSA) Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por
5	$Soft X-ray diffraction microscopy of a frozen hydrated yeast cell$ $Soft X-ray diffraction microscopy of a frozen hydrated yeast cell$ Material Type: Artículo		Soft X-ray diffraction microscopy of a frozen hydrated yeast cell Huang, Xiaojing ; Nelson, Johanna ; Kirz, Janos ; Lima, Enju ; Marchesini, Stefano ; Miao, Huijie ; Neiman, Aaron M ; Shapiro, David ; Steinbrener, Jan ; Stewart, Andrew ; Turner, Joshua J ; Jacobsen, Chris Physical review letters, 2009-11, Vol.103 (19), p.198101-198101, Article 198101 [Revista revisada por pares] United States: American Physical Society (APS) Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por
6	$Soft X-Ray Diffraction Microscopy of a Frozen Hydrated Yeast Cell$ $Soft X-Ray Diffraction Microscopy of a Frozen Hydrated Yeast Cell$ Material Type: Artículo		Soft X-Ray Diffraction Microscopy of a Frozen Hydrated Yeast Cell Xiaojing, Huang ; Nelson, Johanna ; Lima, Enju ; Miao, Huijie ; Steinbrener, Jan ; Stewart, Andrew ; Turner, Joshua J ; Jacobsen, Chris ; Kirz, Janos ; Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720 ; Marchesini, Stefano ; Shapiro, David ; Neiman, Aaron M Physical review letters, 2009-11, Vol.103 (19) [Revista revisada por pares] United States Texto completo disponible Recurso en línea Detalles Comentarios y Etiquetas Servicios adicionales Veces citado Citas Citado por

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