skip to main content

Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions

Csontos, J ; Toth, Z ; Pápa, Z ; Gábor, B ; Füle, M ; Gilicze, B ; Budai, J

Applied Surface Science, 01 November 2017, Vol.421, pp.325-330 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Ver todas as versões
Citações Citado por

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.