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1/ f noise characterization of n + – p and n – i – p Hg 1− x Cd x Te detectors

van Der Ziel, A. ; Fang, P. ; He, L. ; Wu, X. L. ; van Rheenen, A. D. ; Handel, P. H.

Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, March 1989, Vol.7(2), pp.550-554 [Periódico revisado por pares]

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