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Nanostructural conductivity and surface-potential study of low-field-emission carbon films with conductive scanning probe microscopy

Zhang, L. ; Sakai, T. ; Sakuma, N. ; Ono, T. ; Nakayama, K.

Applied Physics Letters, 29 November 1999, Vol.75(22), pp.3527-3529 [Periódico revisado por pares]

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