skip to main content

Local nanoscale strain mapping of a metallic glass during in situ testing

Gammer, Christoph ; Ophus, Colin ; Pekin, Thomas C. ; Eckert, Jürgen ; Minor, Andrew M.

Applied Physics Letters, 23 April 2018, Vol.112(17) [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Citações Citado por

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.