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Nanoscale characterization of hydrogenated and oxidized B-doped homoepitaxial diamond by conductive atomic force microscopy

Zhang, L. ; Sakai, T. ; Yoshida, H. ; Yamanaka, S. ; Okushi, H.

Journal of Applied Physics, 01 April 2002, Vol.91(7), pp.4585-4589 [Periódico revisado por pares]

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