Influence of Rapid Thermal Annealing on the Distribution of Nitrogen Atoms in GaAsN/GaAs

Lazarenko, A. A. ; Shubina, K. Yu ; Nikitina, E. V. ; Pirogov, E. V. ; Mizerov, A. M. ; Sobolev, M. S.

Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2023-12, Vol.57 (12), p.550-553 [Periódico revisado por pares]

Moscow: Pleiades Publishing

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