Extended defect change in UO2 during in situ TEM annealing
Onofri, C. ; Sabathier, C. ; Baumier, C. ; Bachelet, C. ; Drouan, D. ; Gérardin, M. ; Legros, M.
Acta materialia, 2020-09, Vol.196, p.240-251
[Periódico revisado por pares]
Elsevier Ltd
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