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Room-Temperature Mechanical Properties and Slow Crack Growth Behavior of Mg2Si Thermoelectric Materials

Schmidt, Robert D. ; Case, Eldon D. ; Giles, Jesse ; Ni, Jennifer E. ; Hogan, Timothy P.

Journal of electronic materials, 2012-06, Vol.41 (6), p.1210-1216 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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