Defect-Related Degradation of AlGaN-Based UV-B LEDs

Monti, Desiree ; Meneghini, Matteo ; De Santi, Carlo ; Meneghesso, Gaudenzio ; Zanoni, Enrico ; Glaab, Johannes ; Rass, Jens ; Einfeldt, Sven ; Mehnke, Frank ; Enslin, Johannes ; Wernicke, Tim ; Kneissl, Michael

IEEE transactions on electron devices, 2017-01, Vol.64 (1), p.200-205 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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