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Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva

E A Morais Lígia de Oliveira Ruggiero; Máximo Siu Li; Luis Vicente de Andrade Scalvi; Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X (7. 2000 São Pedro)

Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X, 7 São Pedro, 2000

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Título:
Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva
Autor: E A Morais
Lígia de Oliveira Ruggiero; Máximo Siu Li; Luis Vicente de Andrade Scalvi; Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X (7. 2000 São Pedro)
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA
É parte de: Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X, 7 São Pedro, 2000
Editor: São Pedro
Data de criação/publicação: 2000
Formato: p. 142.
Idioma: Português

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