Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício
Marcia de Carvalho Silva Silvio Bruni Herdade
2000
Localização:
IF - Instituto de Física
(https://doi.org/10.11606/D.43.2001.tde-02082013-163614 )(Acessar)