Idioma:

Micro-Raman and electron microscopy analysis of cubic GaN layers on (001) GaAs

A Tabata R Enderlein; A. P Lima; J. R Leite (José Roberto); V Lemos; S Kaiser; D Schikora; B Schoettker; U Koehler; K Lischka; Silicon Carbide III-Nitrides and Related Materials International Conference (7. 1997 Stockholm)

Materials Science Forum Zuerich v. 264-268, pt. 2, p. 1367-1370, 1998

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Título:
Micro-Raman and electron microscopy analysis of cubic GaN layers on (001) GaAs
Autor: A Tabata
R Enderlein; A. P Lima; J. R Leite (José Roberto); V Lemos; S Kaiser; D Schikora; B Schoettker; U Koehler; K Lischka; Silicon Carbide III-Nitrides and Related Materials International Conference (7. 1997 Stockholm)
Assuntos: SEMICONDUTORES
É parte de: Materials Science Forum Zuerich v. 264-268, pt. 2, p. 1367-1370, 1998
Editor: Zuerich Trans Tech Publications
Data de criação/publicação: 1998
Formato: p. 1367-1370.
Idioma: Inglês

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