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Estimating the DINA model parameters using the No‐U‐Turn Sampler

Marcelo A. da Silva (Marcelo Andrade da Silva) Eduardo S. B. de Oliveira (Eduardo Schneider Bueno de Oliveira); Alina A. von Davier; Jorge Luis Bazán Guzmán

Biometrical Journal Weinheim : WILEY-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA v. 60, n. 2, p. 352-368, Mar. 2018

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