Femtosecond free-electron laser x-ray diffraction data sets for algorithm development

Kassemeyer, Stephan ; Steinbrener, Jan ; Lomb, Lukas ; Hartmann, Elisabeth ; Aquila, Andrew ; Barty, Anton ; Martin, Andrew V ; Hampton, Christina Y ; Bajt, Saša ; Barthelmess, Miriam ; Barends, Thomas R M ; Bostedt, Christoph ; Bott, Mario ; Bozek, John D ; Coppola, Nicola ; Cryle, Max ; DePonte, Daniel P ; Doak, R Bruce ; Epp, Sascha W ; Erk, Benjamin ; Fleckenstein, Holger ; Foucar, Lutz ; Graafsma, Heinz ; Gumprecht, Lars ; Hartmann, Andreas ; Hartmann, Robert ; Hauser, Günter ; Hirsemann, Helmut ; Hömke, André ; Holl, Peter ; Jönsson, Olof ; Kimmel, Nils ; Krasniqi, Faton ; Liang, Mengning ; Maia, Filipe R N C ; Marchesini, Stefano ; Nass, Karol ; Reich, Christian ; Rolles, Daniel ; Rudek, Benedikt ; Rudenko, Artem ; Schmidt, Carlo ; Schulz, Joachim ; Shoeman, Robert L ; Sierra, Raymond G ; Soltau, Heike ; Spence, John C H ; Starodub, Dmitri ; Stellato, Francesco ; Stern, Stephan ; Stier, Gunter ; Svenda, Martin ; Weidenspointner, Georg ; Weierstall, Uwe ; White, Thomas A ; Wunderer, Cornelia ; Frank, Matthias ; Chapman, Henry N ; Ullrich, Joachim ; Strüder, Lothar ; Bogan, Michael J ; Schlichting, Ilme

Optics express, 2012-02, Vol.20 (4), p.4149-4158 [Periódico revisado por pares]

United States

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