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XAFS and TOF–SIMS analysis of SEI layers on electrodes

Ota, Hitoshi ; Akai, Toshio ; Namita, Hideo ; Yamaguchi, Shoji ; Nomura, Masaharu

Journal of power sources, 2003-06, Vol.119, p.567-571 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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