XAFS and TOF–SIMS analysis of SEI layers on electrodes
Ota, Hitoshi ; Akai, Toshio ; Namita, Hideo ; Yamaguchi, Shoji ; Nomura, Masaharu
Journal of power sources, 2003-06, Vol.119, p.567-571
[Periódico revisado por pares]
Elsevier B.V
Texto completo disponível