Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors
S U Pandey R Bellwied; R Bettenmueller; H Caines; W Chen; D DiMassino; H Dyke; J Hall; Jiro Takahashi
IEEE Transactions on Nuclear Science v. 45, n. 3, p. 315-321, 1998New York 1998
Acesso online
Lamentamos, um problema foi detectado ao tentar chamar o sistema de gerenciamento da biblioteca. Tente novamente mais tarde
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco-
Realização:
Logos de Redes Sociais: 