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Identificação

Idioma:

Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors

T. E. Lamas (Tomás Erikson) A. A Quivy (Alain André); Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais (7. 2000 São Pedro)

Abstracts São Carlos : UFSCAR, 2000

São Carlos UFSCAR 2000

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Título:
Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors
Autor: T. E. Lamas (Tomás Erikson)
A. A Quivy (Alain André); Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais (7. 2000 São Pedro)
Assuntos: MICROSCOPIA ELETRÔNICA; SEMICONDUTORES
É parte de: Abstracts São Carlos : UFSCAR, 2000
Editor: São Carlos UFSCAR
Data de criação/publicação: 2000
Formato: p. 43.
Idioma: Inglês

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