Self-terminating diffraction gates femtosecond X-ray nanocrystallography measurements

Barty, Anton ; Caleman, Carl ; Aquila, Andrew ; Timneanu, Nicusor ; Lomb, Lukas ; White, Thomas A. ; Andreasson, Jakob ; Arnlund, David ; Bajt, Saša ; Barends, Thomas R. M. ; Barthelmess, Miriam ; Bogan, Michael J. ; Bostedt, Christoph ; Bozek, John D. ; Coffee, Ryan ; Coppola, Nicola ; Davidsson, Jan ; DePonte, Daniel P. ; Doak, R. Bruce ; Ekeberg, Tomas ; Elser, Veit ; Epp, Sascha W. ; Erk, Benjamin ; Fleckenstein, Holger ; Foucar, Lutz ; Fromme, Petra ; Graafsma, Heinz ; Gumprecht, Lars ; Hajdu, Janos ; Hampton, Christina Y. ; Hartmann, Robert ; Hartmann, Andreas ; Hauser, Günter ; Hirsemann, Helmut ; Holl, Peter ; Hunter, Mark S. ; Johansson, Linda ; Kassemeyer, Stephan ; Kimmel, Nils ; Kirian, Richard A. ; Liang, Mengning ; Maia, Filipe R. N. C. ; Malmerberg, Erik ; Marchesini, Stefano ; Martin, Andrew V. ; Nass, Karol ; Neutze, Richard ; Reich, Christian ; Rolles, Daniel ; Rudek, Benedikt ; Rudenko, Artem ; Scott, Howard ; Schlichting, Ilme ; Schulz, Joachim ; Seibert, M. Marvin ; Shoeman, Robert L. ; Sierra, Raymond G. ; Soltau, Heike ; Spence, John C. H. ; Stellato, Francesco ; Stern, Stephan ; Strüder, Lothar ; Ullrich, Joachim ; Wang, X. ; Weidenspointner, Georg ; Weierstall, Uwe ; Wunderer, Cornelia B. ; Chapman, Henry N.

Nature photonics, 2011-12, Vol.6 (1) [Periódico revisado por pares]

United States: Nature Publishing Group

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