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Focused helium ion beam milling and deposition

Boden, S.A. ; Moktadir, Z. ; Bagnall, D.M. ; Mizuta, H. ; Rutt, H.N.

Microelectronic engineering, 2011-08, Vol.88 (8), p.2452-2455 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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