skip to main content

Pattern recognition in the HADES spectrometer: an application of FPGA technology in nuclear and particle physics

Frohlich, I. ; Gabriel, A. ; Kirschner, D. ; Lehnert, J. ; Lins, E. ; Petri, M. ; Perez-Cavalcanti, T. ; Ritman, J. ; Schafer, D. ; Toia, A. ; Traxler, M. ; Kuehn, W.

2002 IEEE International Conference on Field-Programmable Technology, 2002. (FPT). Proceedings, 2002, p.443-444

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por

Identifique-se para postar sua resenha

Identifique-se para adicionar novas tags

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.