Status of the BNL muon (g-2) experiment

Prigl, R. ; Brown, H.N. ; Bunce, G. ; Carey, R.M. ; Cushman, P. ; Danby, G.T. ; Debevec, P.T. ; Deng, H. ; Deninger, W. ; Dhawan, S.K. ; Druzhinin, V.P. ; Duong, L. ; Earle, W. ; Efstathiadis, E. ; Farley, F.J.M. ; Fedotovich, G.V. ; Giron, S. ; Gray, F. ; Grosse Perdekamp, M. ; Grossmann, A. ; Haeberlen, U. ; Hare, M. ; Hazen, E.S. ; Hertzog, D.W. ; Hughes, V.W. ; Iwasaki, M. ; Jungmann, K. ; Kawall, D. ; Kawamura, M. ; Khazin, B.I. ; Kindem, J. ; Krienen, F. ; Kronkvist, I. ; Larsen, R. ; Lee, Y.Y. ; Liu, W. ; Logashenko, I. ; McNabb, R. ; Meng, W. ; Mi, J.-L. ; Miller, D. ; Miller, J.P. ; Morse, W.M. ; Neumayer, P. ; Onderwater, C.J.G. ; Orlov, Y. ; Pai, C. ; Polly, C. ; Pretz, J. ; zu Putlitz, G. ; Redin, S.I. ; Rind, O. ; Roberts, B.L. ; Ryskulov, N. ; Sanders, R. ; Sedykh, S. ; Semertzidis, Y.K. ; Serednyakov, S. ; Shatunov, Yu.M. ; Solodov, E. ; Sossong, M. ; Steinmetz, A. ; Sulak, L.R. ; Tanaka, M. ; Timmermans, C. ; Trofimov, A. ; Urner, D. ; Warburton, D. ; Winn, D. ; Yamamoto, A. ; Zimmerman, D.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 1999-04, Vol.48 (2), p.182-185 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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