Beam particle identification and tagging of incompletely stripped heavy beams with HEIST

Anthony, A. K. ; Niu, C. Y. ; Wang, R. S. ; Wieske, J. ; Brown, K. W. ; Chajecki, Z. ; Lynch, W. G. ; Ayyad, Y. ; Barney, J. ; Baumann, T. ; Bazin, D. ; Beceiro-Novo, S. ; Boza, J. ; Chen, J. ; Cook, K. J. ; Cortesi, M. ; Ginter, T. ; Mittig, W. ; Pype, A. ; Smith, M. K. ; Soto, C. ; Sumithrarachchi, C. ; Swaim, J. ; Sweany, S. ; Teh, F. C. E. ; Tsang, C. Y. ; Tsang, M. B. ; Watwood, N. ; Wuosmaa, A. H.

Review of scientific instruments, 2022-01, Vol.93 (1), p.013306-013306 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

Texto completo disponível