Precision measurements of A1n in the deep inelastic regime

Parno, D.S. ; Flay, D. ; Posik, M. ; Allada, K. ; Armstrong, W. ; Averett, T. ; Benmokhtar, F. ; Bertozzi, W. ; Camsonne, A. ; Canan, M. ; Cates, G.D. ; Chen, C. ; Chen, J.-P. ; Choi, S. ; Chudakov, E. ; Cusanno, F. ; Dalton, M.M. ; Deconinck, W. ; de Jager, C.W. ; Deng, X. ; Deur, A. ; Dutta, C. ; El Fassi, L. ; Franklin, G.B. ; Friend, M. ; Gao, H. ; Garibaldi, F. ; Gilad, S. ; Gilman, R. ; Glamazdin, O. ; Golge, S. ; Gomez, J. ; Guo, L. ; Hansen, O. ; Higinbotham, D.W. ; Holmstrom, T. ; Huang, J. ; Hyde, C. ; Ibrahim, H.F. ; Jiang, X. ; Jin, G. ; Katich, J. ; Kelleher, A. ; Kolarkar, A. ; Korsch, W. ; Kumbartzki, G. ; LeRose, J.J. ; Lindgren, R. ; Liyanage, N. ; Long, E. ; Lukhanin, A. ; Mamyan, V. ; McNulty, D. ; Meziani, Z.-E. ; Michaels, R. ; Mihovilovič, M. ; Moffit, B. ; Muangma, N. ; Nanda, S. ; Narayan, A. ; Nelyubin, V. ; Norum, B. ; Nuruzzaman ; Oh, Y. ; Peng, J.C. ; Qian, X. ; Qiang, Y. ; Rakhman, A. ; Riordan, S. ; Saha, A. ; Sawatzky, B. ; Shabestari, M.H. ; Shahinyan, A. ; Širca, S. ; Solvignon, P. ; Subedi, R. ; Sulkosky, V. ; Tobias, W.A. ; Troth, W. ; Wang, D. ; Wang, Y. ; Wojtsekhowski, B. ; Yan, X. ; Yao, H. ; Ye, Y. ; Ye, Z. ; Yuan, L. ; Zhan, X. ; Zhang, Y. ; Zhang, Y.-W. ; Zhao, B. ; Zheng, X.

Physics letters. B, 2015-05, Vol.744, p.309-314 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível