Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

Zhong Lin. Wang

Localização: IQSC - Inst. Química de São Carlos (502.825 W184r )(Acessar)

Título:
Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis
Autor: Zhong Lin. Wang
Assuntos: Materials -- Microscopy; Surfaces (Technology) -- Analysis; Reflection electron microscopy; MICROSCOPIA ELETRÔNICA; Surfaces Analysis
Notas: Includes bibliographical references (p. 419-430) and indexes.
Editor: Cambridge ; Cambridge University Press, New York
Data de criação/publicação: 1996
Formato: xix, 436 p. : ill. ; 26 cm..
Idioma: Inglês

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